Tel
0086-516-83913580
E-mail
[email prutettu]

Diode SiC DPAK (TO-252AA) Alta Conductibilità Termale

Breve descrizzione:

Struttura di imballaggio: DPAK (TO-252AA)

Introduzione: YUNYI DPAK (TO-252AA) SiC Diode, chì hè fattu di materiali di carburu di silicium, hà una alta conductività termale è una forte capacità di trasferimentu di calore, più favurevule à migliurà a densità di putenza di u dispusitivu di putenza, cusì hè più adattatu per travaglià in un ambiente di alta temperatura. L'alta forza di u campu di rupture di diodi SiC aumenta a tensione di resistenza è riduce a dimensione, è l'alta forza di u campu di rupture elettronicu aumenta a tensione di rupture di i dispositi di putenza semiconductor. À u listessu tempu, per via di l'aumentu di a forza di u campu di rupture di l'elettroni, in u casu di aumentà a densità di penetrazione di impurità, a banda larga di a regione di deriva di u dispusitivu di putenza di diode SiC pò esse ridutta, in modu chì a dimensione di u dispusitivu di putenza. pò esse ridutta.


Detail di u produttu

Monitore u tempu di risposta

Gamma di misura

Tags di u produttu

Meriti di u Diode SiC DPAK (TO-252AA) di YUNYI:

1. Costu cumpetitivu cù qualità high-level

2. Alta efficienza di pruduzzione cù cortu tempu

3. Small size, aiutendu à ottimisà u spaziu circuit board

4. Stabile è affidabile sottu diversi ambienti naturali

5. Self-sviluppatu chip bassu-perdita

TO-252AA

Prucedure di pruduzzione di chip:

1. Stampa meccanica (stampa di wafer automatica super-precisa)

2. Prima incisione automatica (Attrezzatura di incisione automatica, CPK> 1,67)

3. Test automaticu di polarità (test di polarità precisa)

4. Assemblea automatica (Assemblea automatica precisa auto-sviluppata)

5. Saldatura (Prutezzione cù Mistura di Saldatura à Vacuum di Azotu è Idrogenu)

6. Seconda incisione automatica (Secunna incisione automatica cù acqua ultrapura)

7. Incollatura automatica (L'incollatura uniforme è u calculu precisu sò realizati da l'equipaggiu di incollatura automatica precisa)

8. Test Thermal Automatic (Selezzione Automatica da Tester Thermal)

9. Test automaticu (Tester multifunzionale)

贴片检测
芯片检测

Parametri di i prudutti:

Part Number Pacchettu VRWM
V
IO
A
IFZM
A
IR
μa
VF
V
ZICRD5650 DPAK 650 5 60 60 2
ZICRD6650 DPAK 650 6 60 50 2
Z3D06065E DPAK 650 6 70 3 (0,03 tipicu) 1.7 (1.5 tipicu)
ZICRD10650CT DPAK 650 10 60 60 1.7
ZICRD10650 DPAK 650 10 110 100 1.7
ZICRD101200 DPAK 1200 10 110 100 1.8
ZICRD12600 DPAK 600 12 50 150 1.7
ZICRD12650 DPAK 650 12 50 150 1.7
Z3D03065E DPAK 650 3 46 2 (0,03 tipicu) 1.7 (1.4 tipicu)
Z3D10065E DPAK 650 10 115 40 (0,7 tipicu) 1.7 (1.45 tipicu)
Z4D04120E DPAK 1200 4 46 200 (20 tipicu) 1.8 (1.5 tipicu)
Z4D05120E DPAK 1200 5 46 200 (20 tipicu) 1.8 (1.65 tipicu)
Z4D02120E DPAK 1200 2 44 50 (10 tipicu) 1.8 (1.5 tipicu)
Z4D10120E DPAK 1200 10 105 200 (30 tipicu) 1.8 (1.5 tipicu)
Z4D08120E DPAK 1200 8 64 200 (35 tipicu) 1.8 (1.6 tipicu)
Z3D10065E2 DPAK 650 10 70 (per gamba) 8 (0,002 tipicu) (per gamba) 1.7 (1.5 tipicu) (per gamba)

 


  • Previous:
  • Next:

  •